Produkt-Informationen "OTC-KS-NV-SP-010-010"
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
| Auslieferzustand: | Ohne nanoVTEP Verstärker |
|---|---|
| Außenmaße (BxTxH): | 10,5 x 10,5 x 3,1 mm |
| Breite: | 10,5 mm |
| Höhe: | 3,1 mm |
| Länge: | 10,5 mm |
| RoHS-konform: | ja |
| Produktgruppe: | Opens Tests |
| Baureihe: | OTC |
| Ausführung: | nanoVTEP SP 0.4 inch |
| Temperatur min.: | 10 °C |
| Temperatur max.: | 60 °C |
| Typ: | Keysight Vectorless Test |
| Vakuum-Prüfadapter (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Zubehörtyp: | Ausbauzubehör |
| Wechselsätze WS: | WS Keysight |
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- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Weitere Produkte dieser Baureihe:
- Produktgruppe: Opens Tests
- Baureihe: OTC
- Typ: Keysight Vectorless Test
- Ausführung: nanoVTEP SP 0.4 inch
- Zubehörtyp: Ausbauzubehör
- Auslieferzustand: Ohne nanoVTEP Verstärker
- Breite: 10,5 mm
- Höhe: 3,1 mm
- Temperatur min.: 10 °C
- Temperatur max.: 60 °C
- RoHS-konform: ja
- Vakuum-Prüfadapter (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Wechselsätze WS: WS Keysight
- Länge: 10,5 mm
- Außenmaße (BxTxH): 10,5 x 10,5 x 3,1 mm